Der HIP-Analyzer kann entweder als alleinstehende Schablone zur Modellvermessung eingesetzt werden, oder in Verbindung mit dem HIP-Mount zu einer gezielten Analyse der Okklusalebene in allen Dimensionen.

Das Gerät bietet Auflagen für die Referenzpunkte der HIP-Ebene, so dass es, entsprechend auf das Modell gelegt, diese wiederspiegelt. Mit Hilfe der Skala auf dem durchsichtigen Hintergrund können nun sekundenschnell folgende Aspekte analysiert werden:

Der HIP-Analyzer kann auch in 90 Grad-Schritten gedreht in die Aussparung des Montagetisches des HIP-Mounts eingesetzt werden. Dies erlaubt bei einem montiertem Oberkiefermodell im Artikulator noch folgende zusätzliche Aussagen: