In der Totalprothetik ist die korrekte Belastung der Stützgewebe der Prothesenlager ein außerordentlich wichtiges Anliegen. Hier kann sich bereits in der Planungsphase für eine prothetische Versorgung entscheiden, ob, wie schnell und wo eine Resorption dieser Stützgewebe provoziert wird.

Neben der korrekten Achsenstellung der Prothesenzähne (und somit der korrekten Ausrichtung der Kauflächen) ist hier vor allem auch ein physiologisch korrekter Verlauf der Okklusalebene eine wichtige Vorraussetzung, sowohl für die gute Retention der Prothesen auf den Kieferkämmen, als auch für die Langlebigkeit der Versorgung.

Eine physiologisch korrekt ausgerichtete Kauebene und eine Zahnaufstellung unter Berücksichtigung der entsprechenden Kompensationskurven sorgen für eine Minimierung von horizontalen Kräften auf das Prothesenlager in der Funktion. Solche Kräfte, die nicht vertikal, sondern antero-posterior oder lateral auf die Kieferkämme wirken, dürften in erster Linie für die Ausbildung von Schlotterkämmen und für die vorzeitige Resorption der Kieferkämme verantwortlich sein.

Aber auch in der Teilprothetik, der festsitzenden Prothetik, der Dysfunktionstherapie und der Kieferorthopädie ist spielt der Verlauf der Kauebene eine wichtige Rolle. Bei einer 4-Quadranten-Versorgung, z. B., oder einer kieferorthopädischen Umformung der Zahnbögen, sollte es nicht dem Zufall überlassen bleiben, in welcher Höhe die Antagonisten aufeinander treffen. Dabei kann man nicht davon ausgehen, dass sich die Kauebene von alleine immer korrekt einstellt: Frühzeitiger Zahnverlust oder die Retention von Zähnen beim Zahnwechsel, oder auch der Verlust von Antagonisten und der daraus resultierenden Elongation einzelner Zähne, können das natürliche Gleichgewicht im Kausystem empfindlich stören.

Durch eine schiefe Kauebene werden auch asymmetrische Funktionsmuster begünstigt, die nicht nur zu einem chronisch asymmetrischen Muskeltonus und Muskelverspannungen führen können, sondern auch zu chronisch asymmetrischen Belastungen der Zähne, der Kieferkämme und der Kiefergelenke. Mögliche Auswirkungen der Kauebene auf das kraniale System wurden von Dr. Hans Lechner in der GPW in der Vergangenheit ausführlich beschrieben.

In der Folge soll eine spezielle Form der Modellvermessung beschrieben werden, die auch über die Kauebene in einfacher Weise Aufschlüsse ergibt. Zur Verwendung kommt hierbei die ebenfalls von Dr. Hans Lechner bereits beschriebene HIP-Ebene, die sich aus Referenzpunkten ergibt, die bei einigermaßen sorgfältiger Abformung auf dem Oberkiefermodell ohne weiteres aufzufinden sind. HIP steht hierbei für „Hamuli" (eigentlich sind die Falten hinter den maxillären Tubern gemeint) und „Inzisale Papille". Durch diese drei Punkte lässt sich eine Ebene definieren, die einer idealisierten Kauebene in vielen Fällen sehr nahe kommt. 5 Jahre praktische Erfahrung mit dieser HIP-Ebene zeigen, dass hier in der Frontalen in den allermeisten Fällen eine Übereinstimmung mit der Bipupillarlinie besteht, wie auch in der Sagittalen eine recht hohe Koinzidenz mit der Camper´schen Ebene.

Die Modellvermessung erfolgt in der Durchsicht durch die Messskalen eines hierfür konzipierten Gerätes, dem HIP-Analyzer, der bei der Firma MediPluserhältlich ist . Im Prinzip besteht dieses Gerät aus einem Winkel aus poliertem Plexiglas dessen kurzer Schenkel in die Falten posterior zu den maxillären Tubern eingelegt wird. Ein verschiebbarer Stützstift wird auf die Papilla inzisivi eingestellt, so dass ein Koordinatensystem parallel, bzw. im rechten Winkel zur HIP-Ebene über dem Modell entsteht, das als Referenz zur Modellvermessung dient.

Zuerst markiert man die Raphe-Medianlinie entlang der Gaumennaht am Planungsmodell. Ist die Sutur insgesamt nicht deutlich darstellbar, so markiert man lediglich eindeutig erkennbare Punkte und verbindet diese durch eine Linie.

Der Papillenstützstift wird ca. eine viertel Umdrehung aufgedreht, so dass er verschiebbar ist. Nun werden die Hamuli des Modells auf die Auflage gesetzt und der Stützstift wird auf den richtigen Abstand geschoben, so dass er auf der Papilla inzisivi zu liegen kommt. Während das Gewindeteil von unten mit dem Finger in dieser Stellung fixiert wird, dreht man den Papillenstützstift fest und arretiert ihn somit.

In der Draufsicht kann nun das Modell nach folgenden Kriterien analysiert werden:

Die Mittellinie des HIP-Analyzers ist hier die Nulllinie, von der nach außen jeweils in 5-Millimeter-Schritten Linien graviert sind. Antero-posterior entspricht die Nulllinie der Hamulusauflage.

In der Durchsicht von hinten kann man die Länge der rechten und linken Zahnbogenhälfte vergleichen und Abweichungen in der Transversalen ausmessen.

Ist das Modell mit dem HIP-Mount einartikuliert, so kann man den HIP-Analyzer auch statt des Montagewinkels in die Führungsnut des HIP-Mount Tisches schnappen. So kann man von der Seite gesehen Abweichungen des Zahnbogens aus der HIP-Ebene vermessen und numerisch auswerten.

Ebenso kann man den Zahnbogenverlauf auch in der Frontalen auswerten. Hierfür wird der HIP-Analyzer einfach um 90 Grad gedreht auf den Tisch aufgesetzt. Nun hebt man den Tisch des HIP-Mount bist der erste Kontakt zwischen einem Modellzahn und dem HIP-Analyzer entsteht. So wird die Vertikale im Artikulator stabil gehalten, so dass man nun den Artikulator-Stützstift entfernen kann um von anterior freie Sicht auf das Modell zu haben. Bei den horizontalen Linien des vertikalen Schenkels des HIP-Analyzers entspricht die Nulllinie auch der Höhe, bei der der erste Zahnkontakt zustande kommt, so dass relative Abweichungen hierzu direkt abgelesen werden können.

Da das Modell bei der Montage mit der Papilla inzisivi mittig ausgerichtet wurde, kann man nun auch leicht Abweichungen der oberen Schneidezahnmitte ermitteln. Hierfür ist der vertikale Schenkel des HIP-Analyzers in der Vertikalen auch vom Nullpunkt in der Mitte, jeweils nach außen aufsteigend beschriftet, wobei hier jede Linie 2,5 mm entspricht.

Eine Modellanalyse nach den geschilderten Kriterien nimmt höchstens ein paar Minuten in Anspruch und hilft uns, schwierige Zahnbogen- und Kieferverhältnisse bereits im Vorfeld zu erkennen, nötige Korrekturen einzuschätzen und auszumessen. Umfassende Kurse zum Umgang mit der Okklusalebene in der Praxis werden vom ITMR angeboten, und auch im Internet findet sich ein Diskussionsforum zur Okklusalebene: www.ITMR.org/HIP .

Was kostet der HIP-Analyzer?