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Das 3-H-SystemDas zum Patent angemeldete 3-H-System zur Analyse und Korrektur der Okklusalebene wurde im Institut für Temporo-Mandibuläre Regulation, Erlangen, ( www.ITMR.org) von Rainer Schöttl, D.D.S.(USA) entwickelt. Hierbei handelt es um eine in sich geschlossene Vorgehensweise zur Vermessung und Korrektur der Zahnbogensymmetrie und der Kauebene am Modell, im Artikulator und am Patienten. Es beinhaltet fernerhin eine einfache und zeitsparende Methode zur Anordnung des Oberkiefermodells mit Respekt zu einer horizontalen Referenz, die zuvor für den Gesichtsschädel des Patienten optimiert werden kann.Eine besonders schnell und einfach zu ermittelnde Referenzebene kann hierbei besonders effizient eingesetzt werden: Die sogenannte HIP-Ebene, die durch das Dreieck zwischen der inzisalen Papille und den retrotuberkulären Falten des Oberkiefers gebildet wird. Diese Ebene, deren Referenzpunkte bei einer guten Abdrucktechnik ohne weiteres am Oberkiefermodell zu erkennen sind, bietet eine sehr gute frontale Referenz in der Horizontalen, die in den meisten Fällen parallel zur Bipupillarebene verläuft. Auch in der Sagittalen lässt sich so eine Parallelität zur Camper´schen Ebene in vielen Fällen auf Anhieb realisieren.
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